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Product
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
激光測(cè)距儀 型號(hào)：HAD-HT01本安型紅外線測(cè)距儀： 測(cè)量度 ±2mm 測(cè)量范圍 0.05M --- 200M．測(cè)量范圍為0.05至200m，度為±2mm．遠(yuǎn)距離測(cè)距100m無(wú)須使用反射板 ．屏幕照明燈顯示、屏幕圖形顯示．前端測(cè)量或底測(cè)量選擇、延遲測(cè)量．持續(xù)測(cè)量．防水、防塵有煤安認(rèn)證有防認(rèn)證
產(chǎn)品分類(lèi)
相關(guān)文章
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車(chē)及零部件,電氣 |
本安型紅外線測(cè)距儀 礦用激光測(cè)距儀 激光測(cè)距儀 型號(hào)：HAD-HT01
本安型紅外線測(cè)距儀：
測(cè)量度 ±2mm
測(cè)量范圍 0.05M --- 200M
．測(cè)量范圍為0.05至200m，度為±2mm
．遠(yuǎn)距離測(cè)距100m無(wú)須使用反射板
．屏幕照明燈顯示、屏幕圖形顯示
．前端測(cè)量或底測(cè)量選擇、延遲測(cè)量
．持續(xù)測(cè)量
．防水、防塵
有煤安認(rèn)證
2.無(wú)線高壓電流互感器變比測(cè)試儀 型號(hào):HAD-9500
產(chǎn)品特點(diǎn)
測(cè)量：高低壓電流互感器一二次回路的電流、變比、比差、角差、相別、極性、漏電流在線測(cè)試監(jiān)控；變壓器兩側(cè)電流大小、變比在線測(cè)試監(jiān)控；高空電流、漏電流測(cè)試；一二次回路核相、相序判斷功能。
無(wú)線高壓變比測(cè)試儀突破傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)，專(zhuān)為測(cè)量高低壓一二次回路的電流、變比、漏電流而精心設(shè)計(jì)制造的，采用新CT技術(shù)及掩膜數(shù)字集成技術(shù)，由專(zhuān)用高壓檢測(cè)儀、低壓電流鉗、主機(jī)、高壓絕緣桿、監(jiān)控軟件等組成，其無(wú)線傳送測(cè)試數(shù)據(jù)能穿透多層樓房障礙，直線傳輸距離達(dá)300米。若不使用絕緣桿，還可以當(dāng)作高精度低壓鉗形電流表、漏電流表使用，能準(zhǔn)確測(cè)出0.01mA～1000A的電流或漏電流。
3.活性炭粒度測(cè)定儀/活性炭粒度測(cè)試儀/活性碳粒度檢測(cè)儀?? 型號(hào):HAD-LD3
主要部件及主要參數(shù):
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測(cè)顆粒粒度測(cè)定儀的主要部件及參數(shù)
l???????? 轉(zhuǎn)速：150±2r/min
轉(zhuǎn)軸偏心距：20?±1mm
2.定時(shí)器
3.電壓：220V??? 功率：0.5KW
4.手持式四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀 型號(hào):HAD-3
概述
HAD-3型手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.HAD 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成：由HAD-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測(cè)試臺(tái)。
儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校功能；手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用！
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類(lèi)半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配專(zhuān)用探頭，也可測(cè)試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見(jiàn)《四探針探頭特點(diǎn)與選型參考》點(diǎn)擊進(jìn)入
儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類(lèi)半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測(cè)試。
三、基本技術(shù)參數(shù)
1. 測(cè)量范圍、分辨率
電??? 阻：???? 0.010 ～ 50.00kΩ,???? 分辨率0.001 ～ 10 Ω
電 阻 率：???? 0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cHAD
方塊電阻：???? 0.050～ 100.00kΩ/□?? 分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可測(cè)材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)決定如下：
直??? 徑：HADT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130HADHAD。
HADT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180HADHAD×180HADHAD。
長(zhǎng)(高)度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100HADHAD。.
測(cè)量方位: 軸向、徑向均可.
5.多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀/臺(tái)式四探針電阻率測(cè)試儀 型號(hào):HAD-2258C
概述
HAD-2258C型多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)等部分組成。
主機(jī)主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤(pán)輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀特贈(zèng)設(shè)測(cè)試結(jié)果分類(lèi)功能，最大分類(lèi)10類(lèi)。
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類(lèi)半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配專(zhuān)用探頭，也可測(cè)試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
測(cè)試臺(tái)選配：一般四探針?lè)y(cè)試電阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型測(cè)試臺(tái)。二探針?lè)y(cè)試電阻率測(cè)試選HAD-T-K型測(cè)試臺(tái)，也可選配HAD-T-D型測(cè)試臺(tái)以測(cè)試半導(dǎo)體粉末電阻率，選配HAD-T-G型測(cè)試臺(tái)測(cè)試橡塑材料電阻率。詳見(jiàn)《四探針儀器、探頭和測(cè)試臺(tái)的特點(diǎn)與選型參考》
儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類(lèi)半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。
三、基本技術(shù)參數(shù)
1. 測(cè)量范圍、分辨率（括號(hào)內(nèi)為可向下拓展1個(gè)數(shù)量級(jí)）
電??? 阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103? Ω,??? 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103? Ω
???????? （1.0×10-6 ～ 20.00×103? Ω,??? 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
電 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm?? 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103? Ω-cm
???????? （1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm? 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方塊電阻：50.0×10-6 ～ 900.0×103 Ω/□??? 分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103? Ω/□
???????? （5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□? 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103? Ω/□）
2. 材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定)
直??? 徑： HAD-T-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
HAD-T-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長(zhǎng)(高)度：? 測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm,??? 手持方式不限.
測(cè)量方位:? 軸向、徑向均可
以上參數(shù)資料與圖片相對(duì)應(yīng)
010-51655247
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2025-11-24
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